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蛍光X線分析装置

概要
 大気中・非破壊で成分分析ができます
◆WEEE&RoHS規制に対応するための、Pd,Cd,Cr等の検出が可能です
◆堀場製作所特許の真空プローブにより、前処理無しに大気中で非破壊・非汚染測定が可能です
◆世界初の10μmの高分解能を持つ高輝度X線マイクロビームを採用しています
 
 マッピング機能で複合部品やプリント基板の有害元素の
 分布が一目瞭然
◆試料をスキャンさせながらX線を照射し、CCDカメラやX線検出器と連動させることで、光学顕微鏡による観察と、X線分析装置による元素分析の機能をシームレスに融合しています
主な仕様
◆機器名

(株)堀場製作所 XGT-5000

◆ターゲット Rh
◆ビーム径 10μm、 1.2mm
◆試料の大きさと質量 300(W)×250(D)×40(H)mm
最大 500g
◆マッピング像 透過X線マッピング像1画像
蛍光X線マッピング像31画像
◆マッピング画素数 512×512, 256×256
◆光学像観察 全体像: 約2倍 (表示エリア100mm)
詳細像: 約100倍                    
(CRT表示エリア200×150mmにて)
機器の利用について
◆連絡先 電子・有機素材研究所 有機材料科
TEL 0857-38-6200
FAX 0857-38-6210
◆機器使用料 800円/時間
◆依頼試験手数料 4,000円/件(定性分析)



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