トップページ > 技術支援のご案内 > 機器利用 > 公益財団法人ＪＫＡ（旧 日本自転車振興会）補助事業導入装置

公益財団法人ＪＫＡ（旧 日本自転車振興会）補助事業導入装置

　平成２９年度導入装置
装置名 電界放出型走査電子顕微鏡分析装置
担当 無機材料科
概要
　細く絞った電子線を照射し、対象物から発生する２次電子、反射電子等を検出し、高倍率（数万～数十万倍）・高分解能（10-9 m：ナノメートルスケール）の観察・分析を行う装置です。
主な仕様
● メーカー ： （株）日立ハイテクノロジーズ
● 型　式 ： SU5000
● 仕　様
本 体 ： ショットキー走査電子顕微鏡
SU5000
写真倍率10～600,000倍
加速電圧0.5～30kV
分解能1.2nm
（加速電圧30kV、WD5mm、
観察倍率18万倍）
分析部 ： EDAX Pegasusシステム
・エネルギー分散型X線分析装置
　（EDS）
・結晶方位解析装置（EBSD）
　平成２８年度導入装置
装置名 伝導電磁波試験装置
担当 電子システム科
概要
家電製品・産業用機器等から発生する電源ラインへのノイズの測定と、その反対に電源ラインから入ってくるノイズに対する製品の耐性評価を行う装置です
主な仕様
●メーカー： マイクロウェーブファクトリー(株)等
●型　式：
【エミッション試験】
雑音端子電圧測定器：マイクロウェーブファクトリー製
妨害電力測定器：マイクロウェーブファクトリー製
高調波試験器：菊水電子工業製KHA3000
【イミュニティ試験】
伝導妨害波試験器：マイクロウェーブファクトリー製
バースト試験器：ノイズ研究所製 FNS-AX3-B50C
インパルス試験器：ノイズ研究所製 INS-4040-T2016
静電気試験器：ノイズ研究所製 ESS-6008
雷サージ試験器：ノイズ研究所製 LSS-F03 A3
電圧ディップ試験器：NF回路設計ブロック製 As-517a
【交流電源】NF回路設計ブロック製 DP060LM
●仕　様：
【イミュニティ試験】IEC61000、JIS C61000等対応
【エミッション試験】電気用品安全法、CISPR等対応
※写真は、バースト試験器(左上)、エミッション測定用EMIレシーバ(左下) 、雷サージ試験器(右)
　平成２７年度導入装置
装置名 マイクロスコープ
担　当 機械システム科
概　要
　マイクロメートル（千分の１㎜）からミリメートルのオーダーまでを迅速で、高い解像度での観察や、高精度な測定を行う装置です。
主な仕様
・0～5000倍の画面倍率で、
　2次元（2D）および3D
　にて全視野範囲で焦点が
　合ったカラー画像に拡大可
・部品形状・寸法を非接触
　測定可
・傾斜スタンドにより、
　任意方向からの観察可

メーカー：
　株式会社ハイロックス
型　式・装置構成：
（１）本体
　デジタルマイクロスコープ
　KH-8700
（２）レンズ
　MT-C16III、
　MXG-MACROZVI、
　MXG-5040RＺ、
　SP-MXG-2500REZ
（３）スタンド・ステージ
　FB-E、ST-GA、
　SP-XY-GET、
　XY-CB、R-578、ST-HL、
　AS-XYL、SZH-SC
装置名 マクロスコープ
担　当 機械システム科
概　要
　ミリメートルのオーダーの領域を迅速で、高い解像度での観察や、高精度な測定を行う装置です。
主な仕様
・100mm×100mmの
　範囲を、2次元（2D）
　および3Dにて全視野範囲
　で焦点が合ったカラー画像
　に拡大可
・部品形状・寸法や粗さを
　非接触測定可
・測定した3D形状データを
　STL形式で出力可

メーカー：
　alicona社
型　式：
　全焦点3D表面形状測定
　装置
　INFINITE FOCUS G4
装置構成：
（１）本体
　INFINITE FOCUS G4
（２）観察・解析ソフト
　　ウェア（標準付属）
（３）制御用ＰＣ
　INFINITE FOCUS G4
　コントロールサーバー
　平成２６年度導入装置
装置名
 複合環境振動試験装置
　（振動試験装置 / 大型恒温恒湿槽）
担　当
 　電子システム科
概　要
　電気・機械製品及び部品類の温度、湿度、振動、衝撃に対する耐性評価を複合的に行う装置です。
主な仕様
メーカー：IMV株式会社
形式：
　振動試験部　J230/SA3M
　恒温恒湿部 Syn-3HA-70

周波数範囲：　2～3000Hz
最大加速度：　888m/s2 （正弦波）
　　　　　2222m/s2 （ショック波）
最大速度：　2.4m/s
最大変位：　100mm p-p
最大搭載質量：　300kg

温度制御範囲： -70～180℃
湿度制御範囲：　20～98%RH
内槽寸法：　W 1000 × D 1000 × H 1000mm
　平成２５年度導入装置
装置名
 音響分布解析装置
担　当 電子システム科
概　要
　騒音の発生が疑われる場所の周辺をマイクの集合体で探査することにより、騒音の発生源を特定する装置です
主な仕様
メーカー：ブリュエル・ケアー
装置構成：
18chコンバインドアレイ、100kHz超音波マイクロホン、3050型LAN-XI 6ch 51.2kHz 入力モジュール、3160型LAN-XI 2/2ch、51.2kHz 入出力モジュール、3052型LAN-XI、3ch102.4kHz 入力モジュール、3660型LAN-XI、フロントエンドフレーム、インパクトハンマー
ソフトウエア構成：
基本ソフトウエア PULSE、音響パワー解析オプション、建築音響解析オプション、音源探査解析オプション
　平成２４年度導入装置
装置名 顕微レーザーラマン分光装置
担　当 有機材料科
概　要

　機械部品、電気・電子製品に用いられる各種金属材料、無機材料、および有機材料の非破壊分析や、製品不良の原因となる微小異物や埋没異物の分析に用いる装置です
主な仕様
メーカー：日本分光(株)
型式：NRS7100
励起レーザー：532nm 633nm/ 785nm / 1062nm 検出器：CCD検出器およびInGaAs検出器
測定範囲：100～4000cm-1
空間分解能：XY（平面）方向：φ1μm
Z（深さ）方向　：2μm
（条件：励起波長532nmで対物レンズ100倍）
測定モード：ポイント分析、深さ分析、2次元マッピング 、および3次元マッピング
　平成２３年度導入装置
装置名 非接触三次元デジタイザー
担　当 計測制御科
概　要

　機械加工品、樹脂成型品など多様な測定物の表面形状を離れた場所から光学的に測定する装置。
（研究事例および成果）
主な仕様
測定方法：光パターン投影法
測定点間ピッチ：0.02mm（50mm角）
測定範囲：50～250mm角（1ショット）
測定精度：0.005～0.02mm
測定時間：10～15秒（1ショット）
ロータリーテーブル耐重量：＜30kg
装置名 表面加飾作製装置
担　当 産業デザイン科
概　要
　デザインＣＡＤにより、木材、金属、樹脂などの材料の表面にレーザー光で表面加飾を行う装置。
主な仕様
レーザ発振器：　封じ切りＣＯ２レーザ
レーザ出力：　１００Ｗ
加工エリア：　860×610×177(mm)
加工最大速度：　2032mm/s
ビームスポット径：　50μm
　平成２２年度導入装置
装置名 万能材料試験機
担　当 無機材料科
概　要

　金属材料等の引張強度や曲げ強度などの機械的特性の測定に使用する。また、機械金属製品および部品の耐強度等の測定による品質管理および試験評価に使用する。
主な仕様
１．本体
　　万能材料試験機
　　　メーカー ：株式会社島津製作所
　　　型　　式 ：UH-F1000kNI
　　　テーブルサイズ：幅750 mm×奥行き750 mm
　　　最大荷重 ：1000 kN（秤量切換1000, 500, 200, 100, 50, 20 kN）
　　　最大負荷速度：70 mm/min以上
２．付属装置
　　○つかみ歯
　　　・丸棒試験片　径φ12～27 mm
　　　・平板試験片　幅70 mm×厚さ70 mm
　　　・異形棒鋼　　D6～D38
　　○圧縮試験治具
　　　・径φ160 mm固定圧盤取り付け可能
　　○曲げ・抗折試験治具
　　　・ポンチ先端半径R18 mm
　　　・支点半径R25 mm，支点幅160 mm
　　○伸び計
　　　・差動トランス変位形
　　　・標点間距離50 mm
　　　・丸棒試験片 最大径φ25 mm
　　　・平板試験片 最大幅40 mm×最大厚さ25 mm
　　○データ処理
　　　・装　置：Windows7 Intel Core 2 Duoプロセッサ2.9 GHz
　　　　　　　　メモリ4 GB、HDD500 GB、
　　　　　　　　Microsoft Office 2007
　　　・ソフト：一方向負荷試験と繰り返し試験可能
　　　　　　　　装置制御、試験条件設定、試験データ採取・解析、レポート作成
装置名 高分解能揮発性有機化合物分析装置
担　当 有機材料科
概　要

　電気・電子機器などの部品や金属製品に付着または残存している揮発性有機化合物および一般有機化合物、高分子系有機化合物、さらに、電気・電子機器などの部品として使用されている基板、液晶材料、電池材料、ケーブル被膜等に使用あるいは混入している有機系化学規制物質の検出と定量分析に対応。
主な仕様
１．本体
（１）熱分解装置付きガスクロマトグラフ質量分析計システム
①島津製作所製：ＧＣＭＳ－ＱＰ２０１０　Ｐｌｕｓ（熱分析装置：フロンティア・ラボ社製　ダブルショット・パイロライザーＰＹ－２０２０ｉＤ他付属）
・イオン化法：ＥＩ、ＣＩ、ＮＣＩ
・質量範囲：ｍ／ｚ　１．５～１０９０
・熱分解加熱炉：４０～８００℃
・昇温速度：１～１００℃／分
・クライオトラップ機能、選択的試料導入機能付き

２．付属装置
（１）ヘッドスペース装置部
①パーキンエルマー社製：ＴｕｒｂｏＭａｔｒｉｘ　ＨＳ４０標準モデル
・バイアル容量：２２ｍＬ
・加熱温度域：３５～２１０℃
②データーベース
・ＮＩＳＴライブラリー（最新版、サブライブラリー含む）
・フロンティア・ラボ社製ライブラリー　Ｆ－ｓｅａｒｃｈ
　平成２１年度導入装置
装置名 強電界電磁波試験装置
担　当 電子システム科
概　要


　試験対象となる電子部品・機器等に、実際にノイズ信号を直接印加することにより、ノイズに対する耐性を試験評価するとともに、電子部品・機器等自身から放出されているノイズを測定する装置である。
主な仕様
●放射イミュニティ試験周波数範囲：80MHz～3GHz
●放射イミュニティ試験電界強度：50V/m以上
●BCI試験周波数範囲：1MHz～400MHz
●BCI試験注入電流強度：200mA以上
●放射エミッション試験周波数範囲：30MHz～6GHz
装置名 キャス試験機
担　当 無機材料科
概　要
　腐食性の強い塩水液を試料に噴霧することにより、短時間での耐食性評価を行う。
主な仕様
メーカー：スガ試験機（株）
型式：CYP－90A
試験槽内寸法：幅900mm×奥行600mm×高さ500mm
試験条件：
｛塩水噴霧試験｝　35℃～50℃±1℃
｛乾燥｝　外気温度＋10℃～70℃±1℃
　　　湿度　25±5％RH（60℃において）｛湿潤｝　外気温度＋10℃～70℃±1℃
　　　　湿度　60％～95％±5％RH（50℃において）
｛外気導入｝外気温度（温湿度制御無し）
試料枚数：48枚（150mm×70mm×1mm）
試料取付角度：垂直に対して15°
又は20°
装置名 ファインショットブラスト
担　当 無機材料科
概　要
　ダイヤモンドを含んだ超微細な砥粒を用いたブラスト処理により、金属基材の表面を鏡面研摩加工する。
　①ダイヤモンドを含んだ超微細な砥粒を用いたブラスト処理により、複雑形状を有する金属基材の表面を短時間で鏡面研磨加工することができる。
　②微小なバリ取り等荒磨きを行うことができる。
主な仕様
メーカー：東洋研磨材工業（株）
型式：SMAP－Ⅱ型
砥粒径：1μm以下
被加工材形状：250mm×250mmに対応
　平成２０年度導入装置
装置名 蛍光X線膜厚測定装置
担　当 無機材料科
概　要
　半導体、機械・電子部品、プリント基板に使用されるめっき等金属薄膜の膜厚及び組成を測定できる。
主な仕様

メーカー：エスアイアイナノテクノロジー（株）
型式：SFT9400
Ｘ線管：50kV、1mA
ターゲット：モリブデン
コリメータ：0.015、0.05、0.1、0.2mm丸形

耐荷重：10kg
ステージ：Ｘ220mm×Ｙ150mm×Ｚ150mm
　平成１９年度導入装置
装置名 ICP発光分光分析装置
担　当 無機材料科
概　要
　各種鉄鋼・非鉄・プラスチック材料等に含まれる元素を多元素同時に迅速かつ精度よく定量することができる。
　◆溶液中の微量元素を多元素同時に測定できます。
　◆測定可能元素が多く、原子吸光法では困難なZr、Ta、希土類、P、Bなども容易に分析できます。
主な仕様
メーカー：エスアイアイナノテクノロジー（株）
型　　式：SPS3100 24H
分 光 器：
　回折格子
　　4320 本/mm（分光器1）
　　2400 本/mm（分光器2）
　波長範囲
　　160-400 nm（分光器1）
　　185-770 nm（分光器2）
測定対象：
　食品中の微量金属、鉄鋼・非鉄材料の
　構成元素、RoHS規制対象元素（Cd,
　T-Cr, Pb, Hg）など
装置名 電子顕微鏡
担　当 電子システム科
概　要

　機械・電子部品等の微小部形状観察、微細域成分分析を行うことができきます。
主な仕様
メーカー：日本電子㈱
型　　式：JSM-6490LA
加速電圧：0.3kV～30kV
分解能：3.0nm(30kV)
エネルギー分散型Ｘ線分析装置付
分析可能元素：Be～U
200mm径サンプル挿入可能
　平成１８年度導入装置
装置名 形状測定顕微鏡
担　当 計測制御科
概　要
　製品・部品の形状を非接触に観察及び測定評価を行うことができる。
　金属材料に限らず、今まで観察評価が困難であった樹脂成型品やゴム等の微細な製品・部品・加工状態を迅速かつ高精度に評価できる。
主な仕様
メーカー ： ㈱キーエンス
型　　式 ： VK-9500　
表示画像： コンフォーカルカラー画像　　　　　
分解能 ： 高さ方向　0.01μｍ
水平方向　0.13μｍ
最大観察倍率：3,000倍以上
測定項目　　：長さ、高さ、角度、表面積、
体積、粗さ（線粗さ、面粗さ）
　平成１７年度導入装置
装置名 グロー放電発光分光分析装置
担　当 無機材料科
概　要
　めっきやコーティングした薄膜及び、熱処理した金属材料の表面から深さ方向の元素分布情報を迅速に精度良く分析する装置である。
　金属の多元素同時分析にも対応できるため、金属系材料の高性能化研究や企業への技術支援のために使用する。
主な仕様
メーカー：㈱堀場製作所
型　　式：JY-5000RF
測定元素：40元素（H, Li, Be, B, C, N, O, Na, Mg, Al, Si, P, S, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Rh, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Ta, W, Pt, Au, Pb, Bi）
光　　源：マーカス型高周波グロー放電
（13.56Hz/100W）
測定領域：2mmφ、4mmφ、7mmφ
分光器：パッシェルンゲ型ポリクロメーター、波長範囲　110～620nm
焦点距離；500mm
ランプ冷却装置：水冷循環方式
　平成１６年度導入装置
装置名 電気めっき装置一式
担　当 無機材料科
概　要
　精密機械・電気機器やその部品など、電気めっき技術における高度な技術者育成と試作による製品開発を行う。
主な仕様
　〈機器構成〉
　　(a)前処理装置
　　(b)亜鉛めっき装置
　　(c)ニッケルめっき装置
　　(d)クロムめっき装置
　　(e)後処理装置
　　(f)排気装置
　　(g)その他
　平成１５年度導入装置
装置名 摩擦摩耗試験機
担　当 無機材料科
概　要
　材料表面・薄膜の耐摩耗性・強度・滑り易さの評価を行う
主な仕様
・ ボールオンディスク型
・摩擦力検出 ： 高精度差動トランス方式
・回転速度　 ： 1～500rpm　
・簡易真空システム 往復運動機構 　
装置名 高機能フライス盤
担　当 無機材料科
概　要
　新素材や特殊材料の高精度な切削加工を行う
主な仕様
・主軸回転数　　　　：75～3000min-1
・テーブル最小移動量　 ：0.001mm
・ＮＣ制御機能を有する
　平成１４年度導入装置
装置名 温度キャリブレータシステム
（温度校正装置）
担　当 計測制御科
概　要
・各種温度測定機器の比較校正試験を行う装置
・温度制御、検査データの測定を自動で行う
主な仕様
校正温度範囲：-80～1400度
校正対象：熱電対（B, R, S, K, E, J, T）、抵抗体
分解能：0.1度
装置名 圧力キャリブレータシステム
（圧力校正装置）
担　当 計測制御科
概　要
・各種圧力測定機器の比較校正試験を行う装置
・圧力制御、検査データの測定を自動で行う
主な仕様
校正圧力範囲：0～1 MPa
分解能：1 kPa
入力信号：電流、電圧、抵抗
　平成１３年度導入装置
装置名 電源高調波試験装置
担　当 電子システム科
概　要
　電子機器から発生する電源高調波に対して、試験機器がどの程度耐性を持っているのかを評価するのに用いる装置です。
主な仕様
Voltech社　PM3000A
IEC61000-3-2/3-3 規格対応
装置名 電子部品微小硬さ試験装置
担　当 電子システム科
概　要
　電子部品のメッキ膜、蒸着膜などの極表面、極微少部分の堅さを評価するのに用いる装置です。
主な仕様
（株）ミツトヨ　HM-115、HR-522
試験最小荷重：9.8 mN

もどる もどる 

このページのトップへ
Copyright (C) 地方独立行政法人 鳥取県産業技術センター All Rights Reserved.