トップページ > 技術支援のご案内 > 機器利用 > 各試験研究機器 紹介 > 機械素材研究所 > 分析関連機器 > 蛍光X線膜厚測定装置
半導体、機械・電子部品、プリント基板に使用されるめっき等金属薄膜の膜厚及び組成を測定できます。